シリコンフォトニクスデバイス評価に適した波長掃引型フォトニクスアナライザ（型式：SPA-100）を発表

製品名：　　Swept Photonics Analyzer （波長掃引型フォトニクスアナライザ）
製品型式：　SPA-100
2023年2月28日発表
santec株式会社（本社 愛知県小牧市）は、OFDR （Optical Frequency Domain Reflectometry）技術を用いた波長掃引型フォトニクスアナライザ SPA-100 （以下「本製品」といいます。）を開発しました。本製品は、santec波長可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波長依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置です。広帯域波長可変のTSLと組み合わせることで、フォトニクスデバイスの損失点の位置を5umの高い分解能で検出できます。また、光コヒーレント検出技術を採用したことにより、1 回の波長掃引で 70dBを超える広いダイナミックレンジで波長依存損失 （WDL）が測定できます。さらに、特許取得済みの近接センシング機能が、ファイバプローブとデバイス間の精密な距離測定を実現し、シリコンフォトニクスデバイス生産ラインにおいてウェハレベル特性評価時のアライメント工程を容易にします。これらの特徴により、本製品は、シリコンフォトニクス及び小型光コンポーネントの開発や生産など様々なアプリケーションで理想的なツールとなっています。

【画像 https://www.dreamnews.jp/?action_Image=1&p=0000276331&id=bodyimage1】

新製品の特長
● 高分解能
5umの高い距離分解能で分析可能
● 広帯域及び高ダイナミックレンジ
最大160nmの広い波長範囲及び70dB以上の高いダイナミックレンジでWDL測定が可能
● 近接センシング
ファイバプローブとデバイス間距離の精密測定が可能
● ユーザーフレンドリーなGUI （グラフィカルユーザインタフェース）
導波路上の反射点と損失を示すグラフにより障害点を特定し、導波路長や実効屈折率などの解析機能を提供

尚、3月7日からUSA サンディエゴで開催されるOFC2023の当社ブース#3019で展示致します。


santec株式会社について
創業 1979年
業種 光部品・光測定器開発、製造、および販売
株式市場 東京証券取引所　スタンダード市場（6777）
本社 愛知県小牧市
従業員数 273名
連結子会社等
SANTEC GLOBAL CORPORATION（米国　ニュージャージー州）
SANTEC USA COPORATION（米国　ニュージャージー州）
Ssantec Canada Corporation（カナダ　オンタリオ州　オタワ市）
Ssantec California Corporation（米国　カリフォルニア州）
Santec Europe Ltd.（英国　オックスフォードシャー州）
聖德科（上海）光通信有限公司（中国　上海市）
会社紹介 1984年に光ファイバ検査装置を世に送り出し、現在では世界中の主要な通信事業者、伝送装置/サブシステムメーカー、最先端の研究施設や大学等へ販売実績がある光技術のパイオニア企業である。

WEBサイト: https://www.santec.com/jp/

本件お問い合わせ先：
santec株式会社
愛知県小牧市大草年上坂5823番地
電話番号：0568-79-3536
担当：santec Japanインサイドセールスグループ



配信元企業：santec株式会社
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