テレダイン・レクロイ、PCI Express 6.0電気試験のサポートを発表

PCI Express 6.0 電気的テスト＆検証サポート

テレダイン・レクロイ(日本社名：テレダイン・ジャパン、所在地：東京都府中市、代表取締役：原 直)は、この度、QPHY-PCIE6-TX-RX 全自動試験ソフトウェア、SDAIII-PCIE6、SDAIII-PAMx 特性評価およびデバッグ・ソフトウェア・パッケージによるPCI Express(R) 6.0 電気的テストと検証のサポートを発表しました。

画像1: https://www.atpress.ne.jp/releases/344838/LL_img_344838_1.png
PCI Express 6.0 電気的テスト＆検証サポート

人工知能／機械学習(AI／ML)やハイパフォーマンス コンピューティング(HPC)などの新しいテクノロジの成長により、大量のデータへの高速アクセスに対する需要が加速しています。この増大する需要をサポートするために、次世代のPCI ExpressであるPCIe(R) 6.0は、マルチレベル シグナリング(PAM4)を使用して、PCIe(R) 5.0が提供する転送速度32GT／sの2倍のデータ転送速度を実現します。しかし、これにより高速データ・アクセスのニーズを満たすことはできますが、新しいマルチレベル シグナリング アプローチは、システム開発者にとって非常に新しいテストの複雑さを生み出します。

テレダイン・レクロイの新しいQPHY-PCIE6-TX-RX 全自動試験ソフトウェア、SDAIII-PCIE6、SDAIII-PAMx 特性評価およびデバッグ ソフトウェア パッケージは、テレダイン・レクロイのオシロスコープLabMaster 10 Zi-AおよびSDAIII-CompleteLinQ シリアル・データ解析ソフトウェアと併用することで、複雑なPCIe 6.0 デバイスのテストとデバッグに必要なツールをPCI Express開発者に提供します。


【PCIe 6.0 電気テスト対応ソリューションの特長】
● 3つの遷移グループでジッタを計算して表示
● 送信機イコライゼーション(Tx EQ)設定を測定し、結果と方法論を現在のSigTest AC適合方法に合わせる
● 独自の送信機イコライゼーション・ツールを使用し、プリセット・カーソルと波形を測定するためのカスタマイズ可能なセットアップを提供
● オシロスコープの優れたノイズ補正と強力な信号解析波形表示を使用して、信号対雑音歪み比(SNDR)を測定


【製品ラインナップ、価格】
製品名 ：LM10ZI-SDAIII-PCIE6
仕様 ：PCIe 6.0送信機解析オプション
価格(税別)：116万円

製品名 ：LM10ZI-SDAIII-PAMX
仕様 ：PAMxシリアル・データ解析、アイパターン、
ジッタおよびノイズ解析オプション
価格(税別)：116万円

製品名 ：WR9K-SDAIII-PAMX
仕様 ：PAMxシリアル・データ解析、アイパターン、
ジッタおよびノイズ解析オプション
価格(税別)：116万円

製品名 ：WPHD-SDAIII-PAMx
仕様 ：PAMxシリアル・データ解析、アイパターン、
ジッタおよびノイズ解析オプション
価格(税別)：116万円

製品名 ：WM8Zi-SDAIII-PAMx
仕様 ：PAMxシリアル・データ解析、アイパターン、
ジッタおよびノイズ解析オプション
価格(税別)：116万円


◆PCIe 6.0 電気テスト対応ソリューション詳細
https://teledynelecroy.com/pcie-electrical-test/#pcie6 (英語)

◆PCI Expressの基礎紹介セミナー
「今さら聞けないPCI Express ～Part 1： PCI Expressの基礎～」
https://go.teledynelecroy.com/l/48392/2023-02-06/8nd1k5

◆本プレスリリース
https://teledynelecroy.com/japan/news/20230208/default.asp


【Teledyne LeCroy Inc.について】
ニューヨーク州チェストナットリッジに本社を置く、Teledyne LeCroy Inc.(テレダイン・レクロイ)は、性能検証、コンプライアンス試験、複雑な電子システムのデバッグを迅速かつ徹底的に行うための先進的なオシロスコープ、プロトコルアナライザ、その他のテスト機器を製造・販売するリーディングカンパニーです。1964年の創業以来、当社は「Time-to-Insight」を向上させる革新的な製品に強力なツールを組み込むことに注力してきました。解析結果を得るまでの時間を短縮することで、ユーザーは複雑な電子システムの欠陥を迅速に発見して修正することができ、様々なアプリケーションや製品の市場投入までの時間を劇的に短縮することができます。
詳細は、( https://teledynelecroy.com )をご覧ください。

※)本リリースはテレダイン・レクロイ米国本社リリースの抄訳です。
https://teledynelecroy.com/pressreleases/document.aspx?news_id=2178&capid=107&mid=554
※)製品の仕様や発表内容は、予告なく変更されることがあります。


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【本プレスリリースに関する問合せ】
テレダイン・ジャパン株式会社
(テレダイン・レクロイ)
マーケティング 広報担当
Email ： [e-mail]
公式サイト： https://teledynelecroy.com/japan/