Siパワー半導体モジュールの最高耐圧6.5kVをフルSiCで実現
フルSiC適用により高出力密度化とスイッチング損失の大幅低減、動作周波数の向上が可能となり、高耐圧パワーエレクトロニクス機器の小型化・省エネに貢献
2:1チップ化と高放熱・高耐熱小型パッケージで世界最高の定格出力密度を実現
ダイオードとMOSFET※3を1チップ化したダイオード内蔵SiC-MOSFETを開発し、チップ面積を半減
優れた熱伝導性と耐熱性を両立する絶縁基板と、信頼性の高い接合技術により、高放熱・高耐熱小型パッケージを実現
高耐圧パワー半導体モジュールとして世界最高の定格出力密度9.3kVA/ccを実現
定格出力密度 損失 想定動作周波数
今回(SiC) 1.8(9.3kVA/cc) 3分の1 4
従来(Si) 1(5.1kVA/cc) 1 1